产品介绍
- 概况
iEDX-150uT是一种X射线荧光分析仪器。将测量用的物体（如：电路板）放在台上并开始分析，则分析第二荧光X射线是否被分析，以及所含元素的种类，并将其开发制成iEDX-150uT，用于第一X射线的物体调查和生成。为适应RoHS元素分析的需要，对其进行了早期的定性和定量分析， iEDX-150uT能准确完成。
- 软件特性
1.高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）
Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析
3.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
4.励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如：Sn-Pb/Cu ]
5.Multi-Ray. WINDOWS7软件操作系统
6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
7.自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
- 规格
组成
名称
参数
备注
X射线源
光管电压
0 - 50kVp
光管电流
0 - 1mA
靶材
Mo（钼）
光斑
65-90um
射线窗口
Be（铍）
X射线探测器
探测器类型
SDD探测器
Cooling
Peltier
分辨率
125eV @5.9keV
探测范围
70mm2
探测器窗口
Be 0.5mil(12.5um)
滤片
材料
Al（铝）
准直器
直径
35um
材料
/
摄像机
像素
2 million
连接方式
USB
光学成像
实际尺寸软件调节
机体
尺寸
530 X 780 X 530
宽 x 长 x 高
重量
108kg(NET)
控制系统
电脑
DELL
接口
USB 接口
软件
操作系统
MultiRay
自主制造
分析
电源
电压范围
195 – 265VAC
自由电压
市电
600W (800W max)
产品应用：
毛细管微焦点镀层测厚仪 iEDX-150μT，具备极高的性价比。产品广泛应用于特殊镀层厚度检测：化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等；汽车零部件、线路板（PCB）镀层厚度检测，如：电容；单层、多层、合金镀层检测；还可用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业，对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济价值。
