金属镀层测厚仪的具体分类 发布日期：2022-10-26 11:51:44    文章来源：莱雷科技

　　测厚仪有很多种类，测厚原理的方法也是不同的，为了方便运用合适的侧厚原理方法，接下来小编说说金属镀层测厚仪测量原理的几种类型。
      金属镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以很好地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
      金属镀层测厚仪中主要有两种类型的探测器：比例计数器和基于半导体的探测器，如SDD探测器。上述两种探测器都具有自身的优点，可按照具体需求加以选择。比例计数器：此类探测器是充装惰性气体的金属桶柱，当其受到X射线照射时会发生电离。电离气体会产生与吸收的能量成正比的信号。它们应用于最早期的镀层分析仪，且至今仍得到广泛应用。
      金属镀层测厚仪比例计数器硅漂移探测器：存在多种不同的半导体探测器，但我们会考虑使用硅漂移探测器或SDD，因为它是最常见的一种探测器。当SDD受到X射线照射时，探测器材料发生电离，产生一定数量的电荷。电荷量与样品中的元素含量相关。

金属镀层测厚仪硅漂移探测器本质上而言，镀层测厚仪比例计数器（PC）对于元素种类很少的简单分析而言非常有效。它们可以提高锡或银等高能量元素的灵敏度，尤其是使用小型准直器测量时，而SDD则更适合用于磷。比例计数器的成本低于SDD型的成本。但SDD可提供更好的分辨率——即测量谱图会更清晰。如果样品中存在几个元素，则这一特点更显得非常重要。